プローブピン形状検討による接触安定性の確保

お客様の要望・課題

基板検査治具において。お客様の基板を検査するためにプローブピンを接触させる際、半田付けされたピンへのコンタクトであったため、フラックス等付着物により接触安定性を確保できない課題がありました。

そこで、当社より様々あるピンコンタクト形状からクラウン型を選定し、ご提案を行いました。こにより、フラックスをはじめ付着物があっても貫通することで接触安定性を確保することができ、安定した検査を行うことが可能となります。